總的來說，原子吸收法中干擾效應比原子發射光譜法要小得多，原因如下：
①.AAS法中使用銳線光源，應用的是共振吸收線，而吸收線的數目比發射線少得多，光譜重疊的幾率小，光譜干擾少;
②.AAS法中，涉及的是基態原子，故受火焰溫度的影響小。但在實際工作中，干擾仍不能忽視，要了解其產生的原因及消除辦法。
在原子吸收光譜法中，干擾主要有物理干擾、化學干擾、光譜干擾和背景干擾等四類。
一、 光譜干擾
1.與光源有關的
①.待測元素的分析線周圍有鄰近線引起的干擾
a. 與待測元素的分析線鄰近的是待測元素的譜線(單色器不能分開)。如鎳HCL發射的譜線(如圖8-19)，若選232.0nm的共振線作分析線，其周圍有很多鄰近線(非共振線)，如果單色器不能將其鄰近譜線分開，就會產生干擾，使測定的靈敏度下降，工作曲線彎曲。
消除的方法：減小狹縫寬度(如圖8-20)。
b. 與待測元素的分析線鄰近的是非待測元素的譜線(單色器不能分開)。如果此線為非吸收線，同樣會使測定的靈敏度下降，工作曲線彎曲;如果為吸收線，則產生假吸收，引起正誤差。這種現象常見于多元素燈。
消除的方法：采用單元素燈。
②.HCL有連續背景發射，連續背景發射，不僅使測定的靈敏度下降，工作曲線彎曲，當共存元素的吸收線處于背景發射區時，有可能產生假吸收。因此不能使用有嚴重背景發射的HCL。
消除的方法：遇到此情況，應更換燈。