技術參數：
參數 | 指標 | 詳細說明 |
型號 | QICPIC | 粒度范圍：0.55－33792 微米（鏡頭可選） |
測試方法 | 動態成像法 | 顆粒在快速移動中進行測試 |
分散系統 | 自選組合式 | 根據物料原始狀態不同，可選擇不同的分散系統，直接分散干粉、漿料、懸浮液、乳濁液、纖維等 |
光 源 | 頻閃光 | 脈沖間隔< 1 ns（頻閃率約為109次/秒） 波長532 nm |
光束擴束器 | 根據量程不同可自動調整輸出光束的直徑：35 mm ?, 16 mm ?, 7 mm ? | |
測試系統 | 高速成像系統CMOS | 像素：2048 x 2048 square pixels, 5.5x5.5μm2 |
| 灰度：256 (8 bit) | ||
拍攝速率 | 最高可達500幅/秒 | |
數據傳輸 | CoaXPress | 12.5Gbit /s, 25Gbit/s |
數據處理 | 粒度大小 | 等效投影圓面積徑（EQPC）、Feret徑、外接矩形徑、弦長和Martin徑等 |
顆粒形貌 | 球形度，長細比等、纖維長度、平直度、伸長率等 | |
粒度范圍表征 | 可自定義, 在選定范圍內最高可達10000個粒度區間 | |
結果輸出 | 圖像信息 | 可選擇多種方式: 影像放映、粒度分布、特定顆粒信息等，結果可重現 |
操作軟件 | WINDOX 5 | 基于WINDOWS2000/XP的WINDOX5操作軟件符合FDA (21 CFR rule 11) |
質量保證
| 質保書 | 質保書： 隨每臺儀器附原廠質保書 |
標準樣 | 標準樣： SiC-P80 （X50=247μm） SiC-P50 （X50=420μm） SiC-P16 （X50=1600μm） |
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