AFM偏振光、干涉

偏振光、干涉

光是一種電磁波，而電磁波是一種橫波，只有橫波才有偏振現象。其定義為電矢量相對于傳播方向以一固定方式震動的光，圖1-4為偏振光示意圖。

光的偏振現象可以借助于實驗裝置進行檢測。取兩塊相同的偏振片A、B，將自然光先通過第一塊偏振片A，此時自然光也變成為偏振光，但因為人眼無法辨別所以就需要第二塊偏振片B。將偏振片A固定，偏振片B放置于與A同一水平面，轉動偏振片B，即可發現透射光的強度隨著B的轉動而出現周期性的變化，每轉90°光強度會從最大逐漸減弱至最暗，接著再轉動90°光強度會從最暗逐漸增強到最亮，故將偏振片A叫做起偏器，偏振片B叫做檢偏器。

干涉即為兩列相干波（光）在相互作用區疊加是產生的光強度加強或減弱現象。光的干涉主要分為雙縫干涉和薄膜干涉。雙縫干涉為兩個獨立的光源發出的光不是相干光,雙縫干涉的裝置使一束光通過雙縫后變為兩束相干光,在光屏上相通形成穩定的干涉條紋。在雙縫干涉實驗中,光屏上某點到雙縫的路程差為半波長的偶數倍時，該點出現亮條紋；光屏上某點到雙縫的路程差為半波長的奇數倍時,該點出現暗條紋如圖1-5（a）為楊氏雙縫干涉。薄膜干涉為讓一束光經薄膜的兩個表面反射后,形成的兩束反射光產生的干涉現象叫薄膜干涉。在薄膜干涉中，前、后表面反射光的路程差由膜的厚度決定,所以薄膜干涉中同一明條紋（暗條紋）應出現在膜的厚度相等的地方。由于光波波長極短,所以薄膜干涉時，介質膜應足夠薄，才能觀察到干涉條紋