XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以測定晶格參數,可以測定結構方向、含量，可以測定材料的內應力，材料晶體的大小等等。一般主要是用來分析合金里面的相成分和含量。
樣品制備：
通常定量分析的樣品細度應在1微米左右，即應過320目篩。
SEM是利用電子和物質的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質的信息，如形貌、組成、晶體結構、電子結構和內部電場或磁場等等。主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。
近日，北京精微高博儀器有限公司（簡稱精微）宣布收購德國百年企業STOE&CieGmbH公司（簡稱STOE）。借此，精微在原有的吸附、熱分析、反應裝置、質譜等高端科學儀器產品線基礎上增加了高端單......
一、采購項目基本信息1、采購項目名稱：湖南工學院先進材料開發制備與檢測創新平臺項目2、政府采購計劃編號：湘財采計[2025]000641號3、委托代理編號：2954-20250403-5254、采購項......
X射線熒光（XRF）是一種用于測定材料元素和涂層系統特性的分析方法，具有悠久的歷史，在許多實驗室都有應用。傳統上，XRF分析大面積或體積的樣品。在制備過程中，往往需要對樣品材料進行變形和破壞，即制備過......
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達......
——聚束科技創始人之一、副總經理李帥專訪分析測試百科網訊作為觀察微觀世界的“科學之眼”，電子顯微鏡在生命科學、材料、電子半導體等各領域的應用日益廣泛，但長久以來該市場都被進口產品壟斷。近年來一匹黑馬出......
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達......
SEM儀器是掃描電子顯微鏡，是一種用于高分辨率微區形貌分析的大型精密儀器，具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。目前,掃描電子顯微鏡已......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味著變大,常見是摻入了比主體大的雜原子出現“摻雜”，雜質原子會使晶胞參數變大或變小；如果左移,說明晶胞參數變大,晶面間距變大；制樣時要盡量使樣品和樣品板相平,......
拿到圖譜后，用分析軟件打開（如jade),去本底，平滑，尋峰，手動添加和刪減峰，物相鑒定（根據材料的具體成分進行元素的合理選擇）,根據軟件提供的標準圖譜和自己的圖譜比對，重合性好的可以作為一種物相。......
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味著變大,常見是摻入了比主體大的雜原子.出現“摻雜”,雜質原子會使晶胞參數變大或變小；如果左移,說明晶胞參數變大,晶面間距變大；制樣時要盡量使樣品和樣品板相平......