X熒光鍍層厚度測量儀通過自動定位功能，只需把樣品放在樣品臺上，便能在數秒內自動對準觀察樣品焦點，省略了以前手動逐次對焦的操作，大幅提高了測量效果，鍍層厚度測量儀熒光或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
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X熒光鍍層厚度測量儀具有自動對焦功能自動接近功能
在樣品臺上放置各種高度的樣品時，只要高低差在80mm范圍內，即可在3秒內自動對焦被測樣品。由此進一步提高定位操作的便捷性。
自動對焦功能簡便的攝像頭對焦
自動接近功能zui適合位置的對焦
X熒光鍍層厚度測量儀能通過新薄膜FP法提高測量精度
日立FT110AX射線熒光鍍層厚度測量儀實現微小光束的高靈敏度，通過微小準直器提高了膜厚測量精度。鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2。另外，針對檢測器的特性開發了新的EP法，可進行無標樣測量。測量結果可一鍵生成報告書，簡單方便。
主要特點：
1.操作非常簡單。
2.運用激光焦點的功能，簡單的調整位置。
3.針對有凹凸的樣品也搭載了放心的防止沖突傳感器。
4.搭載焦點切換機構，可以對高的樣品的低部分進行測定。(任意選擇)
5.采用可以測定大型打印基板的狹小間隙機構。
規格參數：
可測量元素：原子序數22(Ti)～92(U)
X射線源：小型空氣冷卻型X射線管球 管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗
濾波器：一次濾波器：Al-自動切換 二次濾波器：Co-自動切換
檢測器：比例計數管
準直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm
圓形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm
安全性能：裝有樣品門聯鎖、防沖撞的功能
樣品圖像對焦方式：激光自動對焦
樣品觀察：CCD固定倍率、鹵素燈照明 選購項：倍率切換（zui大130倍）
修正功能：底材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
測量報告書制作：配備MS-EXCEL? MS-WORD?(使用宏支持自動制作測量報告書) 測量能譜與樣品圖像保存功能
新薄膜EP法
減少檢量線制作的繁瑣程度、實現了設定測量條件的簡易化
無標樣測量方法可進行zui多5層的膜厚測量
自動對焦功能和距離修正功能
凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進行測量
靈敏度提高
鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2
生成報告功能
一鍵生成測量報告書
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
金屬鍍層的厚度測量,電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
X熒光鍍層厚度測量儀可進行廣域樣品觀察
FT110A對測量平臺（250mm*200mm）上放置的樣品拍攝一張靜態畫面后，可在獲取的廣域觀察圖像上指定狹域的觀察位置。由此，可大幅減少多數測量點位置的選取時間，以及在圖像上難以尋找的特定點位置的選定時間。