用于激光等離子體診斷的亞千X射線能譜儀
本文簡介了由濾片-X射線二極管陣列組成的具有亞納秒時間分辨的亞千X射線能譜儀。在0．1到1．5keV能區能量分辨約為200eV。著重介紹了譜儀的結構和應用，數據處理及誤差。并就激光-金平面靶相互作用實驗中，在激光強度約10^14w／cm^2條件下獲得的部份數據進行了簡化處理，給出了激光等離子體亞千X射線輻射能譜，由此推出等離子體輻射溫度。......閱讀全文
x射線光電子能譜儀的主要研究領域
主要研究領域包括： （1）TiO2納米光催化以及在空氣和水凈化方面的應用； （2）汽車尾氣凈化催化劑新型金屬載體的研究； （3）納米藥物載體及靶向藥物的研究； （4）納米導電陶瓷薄膜材料的研究； （5）納米雜化超硬薄膜材料及摩擦化學的研究； （6）納米發光材料及納米分析化學研究；
利用X射線能譜儀測量大蟾蜍組織中的元素
蟾蜍在農業.醫用,科研及教學上具有多方面的用途.本文用 X 射線能譜儀對大蟾蜍(Bufo bufo)的腎、肝、胃、氣管等組織中所含的元素作了初步分析.其結果是:這些組織中都含有 Al、Fe、Si,除肝不含 Nb、Tb、Ta 外,其它組織都含這些元素,同時肝、腎、胃中還含有元素 Y、Nb、Tb、Ta
用X射線能譜儀測定襯底材料上的薄膜厚度
本文利用薄膜對入射電子束流的衰減作用和薄膜對襯底的x射線的吸收,提出了一種直接利用襯底的x射線的強度比來測量薄膜厚度的方法。并在各種實驗條件下,對Cu薄膜的厚度進行了測量,得到了較為滿意的結果。?
X射線光電子能譜儀的發展史
1887年，海因里希·魯道夫·赫茲發現了光電效應，1905年，愛因斯坦解釋了該現象（并為此獲得了1921年的諾貝爾物理學獎）。兩年后的1907年，P.D. Innes用倫琴管、亥姆霍茲線圈、磁場半球（電子能量分析儀）和照像平版做實驗來記錄寬帶發射電子和速度的函數關系，他的實驗事實上記錄了人類第一條X
用x射線能譜儀測量樣品成份的新方法
本文提出了x射線能譜測試中的一個新參數η_A~B,其物理意義是單個電子激發元素A與B的特征x射線強度之比。在此基礎上,提出了一種新的測試方法。實驗證明,新方法既具有全標樣法的精度又具有無標樣法簡便迅速的優點。?
電子探針X射線微區分析能譜儀分析特點
具有以下優點（與波譜儀相比） 能譜儀探測X射線的效率高。 在同一時間對分析點內所有元素X射線光子的能量進行測定和計數，在幾分鐘內可得到定性分析結果，而波譜儀只能逐個測量每種元素特征波長。 結構簡單，穩定性和重現性都很好（因為無機械傳動），不必聚焦，對樣品表面無特殊要求，適于粗糙表面分析。
6MV－X－射線能譜的實驗測定
用穿透系數數值分析的疊代最小二乘法對穩態加速器的Ｘ射線能譜進行了實驗測定，編寫了疊代最小二乘法的計算程序。?
12MVX射線能譜的實驗測定
對于流體物理研究所的12MV脈沖X射線裝置,其光子能譜是一個重要的物理參量。當用12MV脈沖射線作為相關實驗研究的輻射源時,得到的實驗結果的物理解釋也需要足夠的譜的數據。但由于高能高注量軔致輻射的光子譜難以用通常的在線式γ譜儀測量,所以用透射系數數值分析的方法對12MV-X射線譜作了初步的實驗測定。
軟X射線能譜定量測量技術研究
采用每毫米 10 0 0線的自支撐透射光柵配上背照射軟X射線CCD(charge coupleddevice)組成了透射光柵譜儀 ,利用北京同步輻射裝置 (BSRF) 3W1B光束線軟X射線實驗站上X射線源分別對透射光柵的衍射效率和軟X射線CCD的響應靈敏度進行了準確的實驗標定 ,獲得了 15 0e
Z箍縮軟X射線連續能譜測量
診斷Z箍縮等離子體不同時刻的空間分布及狀態是認識等離子體運動規律進而控制其箍縮過程以便加以利用的必經環節。在箍縮過程中,離子、電子和光子發生強烈的相互作用,探測出射的X光可不破壞等離子體原有狀態而獲取三者運動信息。通過測量X光能譜可以探知輻射場溫度、離子密度、輻射沖擊過程等等。受現有裝置驅動能力的限
基于MARS系統的X射線能譜CT研究
X射線是19世紀末物理學的三大發現（X射線1895年、放射性1896年、電子1897年）之一，這一發現標志著現代物理學的誕生。由于X射線是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁輻射，因而它具有很高的穿透本領，能穿透許多對可見光不透明的物質，基于此，可用來幫助人們進行醫學診斷和治療，或者用于工業等領域的非破
快脈沖硬X射線能譜測量實驗研究
研究設計了以解析吸收片后的透射率來測量快脈沖硬X射線輻射場能譜的實驗方法。對實驗方案進行了理論模擬設計,并獲得了解譜必要的理論數據,通過測量不同吸收片后光強的實驗方法獲得了透射系數,用微擾的數學方法完成了測量譜的解析,復現了測量位置處快脈沖硬X射線輻射場能譜,最后對該方法的可靠性進行了驗證。?
X射線能譜測量的蒙特卡羅成像模擬
針對高能強流電子束轟擊高Z靶產生的X射線的能譜測量問題,采用蒙特卡羅方法進行成像模擬研究。高能X射線能譜通常由對X射線經過衰減體的直穿透射率曲線進行解譜獲得。設計了帶多準直孔的截錐體模型,在單次模擬成像中獲得完整的衰減透射率曲線,有效避免了散射光子對透射率曲線以及X射線能譜重建的影響。成像面采用非均
用于高能X射線能譜測量的MLS法
為滿足高能X射線能譜測量的需要,提出采用MLS法進行能譜測量的方案。MLS法克服了其他測量方法散射不易控制、光場不均勻性影響較大的缺點,還具有對不同角度能譜進行測量的優勢。對MLS法的測量原理以及測量過程中的注意事項進行了明確,并利用蒙特卡羅方法針對一特定的X射線能譜設計了兩種不同介質的測量裝置,并
氚鈦靶的X射線能譜初步研究
采用超低能鍺探測X射線技術和βIXS方法,研究了在Ar氣、空氣介質中鉬材料中氚和氚鈦靶中氚產生的X射線能譜。Ar氣介質與空氣介質相比,鉬材料中氚產生的X射線能譜除了與空氣介質在同樣的峰位能量2.2keV位置產生譜峰外,還增加了一個峰位能量為3.0keV的譜峰。
電子探針分析的X射線能譜法
本文介紹了使用硅(鋰)檢測器進行定量電子探針分析的一種方法,這種方法使用了背景模擬技術及其它技術中的電荷收集不完全和電子噪聲的校正。輕元素分析的改進對硅酸鹽樣品是特別有利的,使之盡可能采用純金屬作分析標樣。這種方法已被用于各種地球化學樣品的分析中(包括用JG—1和JB—1巖石做成的玻璃)。與濕式化學
X射線能譜分析中譜線重疊問題
掃描電子顯微鏡上配接Si(Li)探測器X射線能譜儀,進行地質樣品分析時,由于它的峰,背比值較低和譜線分辨率不如X射線波譜儀,盡管探測效率很高,仍然存在譜線的干擾或重疊現象。譜線的干擾或重疊現象主要劃分為三個類型:相鄰或相近元素同一線系(K、L、M)的譜線之間重疊;原子序數較低的K線系譜線與原子序數較
X射線能譜法與X射線光譜法最小濃度檢測極限的對比
自從1968年Fitzgerald等人把x射線能譜法[EDX]引用于電子光學儀器以來,不少專家就著手評價這兩種系統的優劣了。Servant等人在普通掃描電鏡[SEM]上加裝束流調節器和防污染裝置,用能譜儀[EDX]對濃度大于2(wt)%的二元合金。
HPGe測量連續硬X射線能譜的解譜方法研究
結合數值模擬得到的單能光子在HPGe探測器上能量響應函數,用改進的剝譜法對測量得到的連續硬X射線能譜進行解譜。扣除測量譜中康普頓、反散射等效應產生的計數對測量能譜的影響,得到了僅反映探測器對光電效應的能量響應的能譜。最后,通過效率修正,完成了測量譜到實際能譜的還原,為連續硬X射線能譜解析提供了可靠方
X射線光電子能譜儀的主要用途
XPS：固體樣品的表面組成分析，化學狀態分析，取樣訊息深度為～10nm以內. 功能包括:1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間分辨率的X射線光電子能譜的全譜資訊。2. 維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學態的深度分析（角分辨方式,,氬離子或團簇離子刻蝕方式）3. 線掃描或面掃描
X射線能譜儀的發展及對礦物學的影響
在倫琴發現X射線的早些年代里,不同能量的X射線是根據它們的穿透物質的能力來區分的。布拉格利用晶體衍射把不同波長的X射線區分開。莫塞萊利用此種方法得到了許多X射線譜,此種方法至今仍用于X射線的測量及研究。無論使用何種方法對X射線進行測量,都需要一個合適的X射線探測器。最早的探測器為蓋格計數管,后改用正
X射線光電子能譜儀的主要用途
XPS：固體樣品的表面組成分析，化學狀態分析，取樣訊息深度為～10nm以內. 功能包括:1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間分辨率的X射線光電子能譜的全譜資訊.2. 維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學態的深度分析（角分辨方式,,氬離子或團簇離子刻蝕方式）3. 線掃瞄或面掃瞄
X射線能譜儀分析元素時對計數率的選擇
用X射線能譜儀分析元素時,應該選擇合適的計數率才能獲得所需的準確性。本文對能譜儀分析元素的基本原理及選擇高計數率時所引起元素分析的誤差做了論述。?
x射線光電子能譜儀的相關內容
主要用途： XPS： 1.固體樣品的表面組成分析，化學 狀態分析，取樣深度為～3nm 2.元素成分的 深度分析（角分辨方式和氬離子刻蝕方式） 3.可進行樣品的 原位處理 AES： 1.可進行樣品表面的微區選點分析（包括點分析，線分析和面分析） 2.可進行深度分析適合： 納米薄膜材料， 微電子材料
關于X射線光電子能譜儀的基本用途介紹
X射線光電子能譜儀的用途：固體樣品的表面組成分析，化學狀態分析，取樣訊息深度為～10nm以內. 功能包括: 1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間分辨率的X射線光電子能譜的全譜資訊。 2. 維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學態的深度分析（角分辨方式,,氬離子或團簇離子
黃金首飾的鑒定（X射線能譜儀應用之一）
黃金首飾的鑒定（Ｘ射線能譜儀應用之一）山東工業大學侯緒榮，曹麗敏，費振義利用ｘ射線能譜儀定量測定黃金首飾成分，選擇合理測試參數，經多次測定取其平均值而獲得其成分，并借助改變加速電壓，判斷成分波動范圍的合理性。
X射線光電子能譜儀的主要用途
XPS：固體樣品的表面組成分析，化學狀態分析，取樣訊息深度為～10nm以內. 功能包括:1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間分辨率的X射線光電子能譜的全譜資訊.2. 維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學態的深度分析（角分辨方式,,氬離子或團簇離子刻蝕方式）3. 線掃瞄或面掃瞄
簡介X射線光電子能譜儀的技術指標
可實現的功能：單色化雙陽極XPS、微區XPS、離子散射譜ISS、反射電子能量損失譜REELS、紫外光電子能譜UPS、氬復合團簇離子槍刻蝕、角分辨ARXPS、平行成像XPS、原位X射線熒光光譜EDXRF分析，并能進行樣品臺加熱冷卻、超高真空環境下的測量。 能量掃描范圍0～5000eV；通過能范圍
X射線晶體譜儀研發獲進展
近期，中國科學院近代物理研究所原子物理中心科研人員自主研發了用于內殼多空穴離子X射線精細結構測量的寬帶高分辨晶體譜儀，相關成果于4月3日發表在光譜學期刊Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy上。解析內殼多空穴離子的X射線精細結構不僅是研究量子電
X射線能譜儀的能譜分析中出現的假峰是什么情況？
分析某些元素時可能會出現和峰，和峰的出現會造成和峰附近的背底變形，如果與其他峰出現重疊，計算結果時即使扣除背底也不能得到滿意的結果。此時，需要改變采譜條件，減少計數率，減小和峰對背底的影響，避免和峰的出現。計數率可通過改變束流、更換光闌、調節探測器與樣品間的距離等措施來調節。 逃逸峰是探測器在