激發光譜（PLE）和發射光譜（PL）。激發光譜：固定發射光的波長，改變激發光的波長，記錄熒光強度隨激發波長的變化。發射光譜：固定激發光的波長，記錄不同發射波長處熒光強度隨發射波長的變化。
無論是激發還是發射熒光光譜圖，其都是記錄發射熒光強度隨波長的變化。如果熒光光譜中縱坐標為強度，橫坐標為波長。那么就能獲取峰位和半峰寬。峰位的直觀體現是熒光的顏色；半峰寬則表示熒光的純度。
光致發光光譜
光致發光光譜（Photoluminescence Spectroscopy，簡稱PL譜），指物質在光的激勵下，電子從價帶躍遷至導帶并在價帶留下空穴；電子和空穴在各自的導帶和價帶中通過弛豫達到各自未被占據的最低激發態（在本征半導體中即導帶底和價帶頂），成為準平衡態。
準平衡態下的電子和空穴再通過復合發光，形成不同波長光的強度或能量分布的光譜圖。光致發光過程包括熒光發光和磷光發光。
光譜應用
在激發光能量不是非常大的情況下，PL測試是一種無損的測試方法，可以快速、便捷地表征半導體材料的缺陷、雜質以及材料的發光性能。
1、組分測定；對三元系或四元系合金，如InxGa1-xN等，通過PL峰位確定半導體材料的禁帶寬度，進而確定材料組分x。
2、雜質識別；通過光譜中的特征譜線位置，可以識別材料中的雜質元素。
3、雜質濃度測定。
4、變溫Pl可以測試材料/器件的發光效率。
5、半導體材料的少數載流子壽命。
6、位錯等缺陷的相關作用研究。
