該方法是采用紅外漫反射光譜（DRIFTS）測定法對TLC板上的色譜斑點進行直接檢測，最初是在1975年由Percival和Griffiths報道的。傅里葉紅外光譜儀的漫反射裝置見圖11-6-25。一般在未點樣前先測得薄層板背景光譜圖，點樣層析后再測得同樣位置的分離譜帶的紅外光譜圖，前后譜圖經差譜可得分離譜帶物質的校正光譜圖。
原位TLC-FTIR法受薄層板強的吸收背景影響較嚴重，常見硅膠板和氧化鋁的漫反射光譜圖見圖11-6-26所示。顯然，固定相強的光譜吸收會干擾分析物的檢測或使分析物的譜圖嚴重畸變。一般來說，至少要用1μl物質才能記錄到分析物的官能團信息，若進行局部光譜記錄則要約10μl，而且需要多次光譜數據累加，因原位TLC-FTIR法只能通過常規薄層色譜實現。
