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  • 發布時間:2018-07-27 20:15 原文鏈接: XPS主要功能

    全掃描:取全譜與標準譜線對照,找出各條譜線的歸屬。以便識別樣品中所有元素,并為窄區譜(高分辨譜)的能量設置范圍尋找依據。結合能掃描范圍1100~0 eV,分辨率2eV

    分辨率0.1eV。掃描區間包括待測元素的能量范圍,但又沒有其他元素的譜線干擾。窄掃描可以得到譜線的精細結構。另外,定量分析最好也用窄區譜,這樣誤差更小。


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