基于RoHS認證的X熒光分析技術實驗研究
RoHS指令(《電氣、電子設備中限制使用某些有害物質指令》)規定輸往歐洲的電子產品及其組件均需對六種有毒成份:鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、六價鉻(Cr6+)、多溴聯苯(PBBs)、多溴二苯醚(PBDEs)等有害物質加以限制。近幾年該指令已在電子電器、質量檢測、環保等相關行業廣泛實施應用。在多種RoHS認證的檢測手段中,便攜式XRF技術提供了一種快速的、低成本的、非破壞性的現場篩選、檢測和控制有害元素含量的方法手段,已被廣泛應用于RoHS檢測、環境調查和商業檢測等部門。作為一種快速分析手段,在實際生產生活中有著很大的實用價值。本文是從實際應用的角度出發,通過調研分析RoHS指令的新進展,使用IED-2000P型能量色散X熒光儀分別分析配置的粉末樣品、壓制的樣片及選用生活中常用的實物樣品中的Br、Hg、Pb、Cr和Cd等五種元素,旨在驗證XRF技術在基于RoHS認證的電子電器行業中的實用性和有效性。為了突出其實用性,考慮到同......閱讀全文
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
簡述－X－射線熒光分析技術
X 射線熒光分析技術（XRF）作為一種快速分析手段，為我國的相關部門提供了一種可行的、低成本的并且及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。相對于其他分析方法（例如發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等），XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理，快速、方便、測量成本低等明顯優勢，特別適
X射線熒光分析技術分類
X射線熒光分析技術可以分為兩大類型：波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF)；而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前，X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一
X射線熒光分析技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線熒光分析的技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
X射線熒光分析技術相關介紹
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
X射線熒光分析技術的應用
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；
X熒光分析技術原理及應用
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。X熒光分析儀儀器應用領域：鋼鐵行業：生鐵、爐渣、礦石、燒結礦、球團礦、鐵精粉、鐵礦石等。水泥行業：生料、熟料、水泥、原材料等。耐火材料:
X射線熒光分析技術的應用
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
X射線熒光分析技術的應用
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑;與其他分析方法
X射線熒光分析技術的應用介紹
隨著儀器技術和理論方法的發展，X射線熒光分析法的應用范同越來越廣。在物質的成分分析上，在冶金、地質、化工、機械、石油、建筑材料等工業部門，農業和醫藥衛生，以及物理、化學、生物、地學、環境、天文及考古等研究部門都得到了廣泛的應用：有效地用于測定薄膜的厚度和組成．如冶金鍍層或金屬薄片的厚度，金屬腐蝕
鐵合金X熒光分析技術的研究
鐵合金是鋼鐵冶煉過程中重要的添加劑,其組分直接影響著鋼鐵產品的質量,因此對鐵合金化學成分進行快速、準確分析是非常重要的。采用X射線熒光分析方法對于鐵合金分析具有分析速度快、檢測范圍廣、結果穩定可靠等優點,受到了科研和生產人員重視。本文采用便攜式XRF分析儀開展鐵合金主元素的快速分析研究,重點討論了鉻
鐵合金X熒光分析技術的研究
鐵合金是鋼鐵冶煉過程中重要的添加劑,其組分直接影響著鋼鐵產品的質量,因此對鐵合金化學成分進行快速、準確分析是非常重要的。采用X射線熒光分析方法對于鐵合金分析具有分析速度快、檢測范圍廣、結果穩定可靠等優點,受到了科研和生產人員重視。本文采用便攜式XRF分析儀開展鐵合金主元素的快速分析研究,重點討論了鉻
X射線熒光分析技術的特點介紹
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
X射線熒光分析技術的相關介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。 X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S
X熒光光譜儀分析技術誤區
不管任何分析儀器，分析技術是獲得正確結果的保證。分析技術貫穿于儀器應用的全過程。分析方法的選擇必須滿足儀器應用的需要。 誤區1：標樣制備太麻煩，最好用無標樣法。 X熒光光譜儀分析法和其它大部分分析儀器一樣，是相對分析法。在X熒光光譜儀分析中，測得的X射線強度與相應元素濃度的對應關系完全是建立在標準樣
關于X射線熒光分析技術應用的誤區
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
質子激發X射線熒光分析的非真空分析技術
質子X 射線熒光分析一般在真空中照射樣品（稱作真空分析或內束技術），但也發展了一種非真空分析技術（或稱外束技術），即將質子束從真空室中引出，在空氣（或氦氣）中轟擊樣品。真空分析可能引起厚樣品積累正電荷（質子電荷）而吸引周圍電子，造成本底增高。非真空分析由于樣品周圍空氣電離而有導電性，可消除電荷積
X射線熒光分析技術應用的原理分析及誤區
?X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵分析儀的研
X射線熒光分析中的相關技術研究
X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析,本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特征X射線(X射線熒光)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一臺X射線熒光分析儀,至60
簡介X熒光分析儀的技術指標
分析范圍: 0.01%～100% 分析精度：標準偏差SSO3≤0.04%、SCaO≤0.10% 樣品量: 2～3ml(相當樣品深度3mm～4mm)； 分析寬度: CaO（SO3）: min~max≤15%,例如水泥中CaO :37%～52%，通過標定工作曲線選定。 測量時間: 60、12
X熒光分析儀的應用及技術原理
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。 一、XRF在物質成分分析上的應用 XRF應用主要取決于儀器技術和理論方法的發展。X射線熒光分析儀器有三種主要類型：實驗室用
掠射軟X射線熒光分析技術研究
掠射X射線分析是近年來迅速發展的一門分析技術，在科學研究以及分析檢測和質量控制等生產領域都有著廣泛的應用。X射線分析技術具有試樣無損分析、制樣經濟方便、操作簡單、分析結果重現性好及精度高等優點，使得這項技術在薄膜特性分析、半導體材料及磁鐵材料表面檢測方面受到特別的青睞。本文在綜述了國內外掠射X射線熒
基于RoHS認證的X熒光分析技術實驗研究
RoHS指令(《電氣、電子設備中限制使用某些有害物質指令》)規定輸往歐洲的電子產品及其組件均需對六種有毒成份:鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、六價鉻(Cr6+)、多溴聯苯(PBBs)、多溴二苯醚(PBDEs)等有害物質加以限制。近幾年該指令已在電子電器、質量檢測、環保等相關行業廣泛實施應用。在多
單波長能量色散X射線熒光分析技術
單波長能量色散X射線熒光分析技術(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠雙曲面彎晶、二次靶或者多層膜彎晶等技術，將X射線管出射譜中的單一能量衍射聚焦到樣品一點，激發樣品中元素熒光，這樣極大降
X熒光多元素分析儀技術指標
1.?分析范圍：CaO、Fe2O3、SiO2、Al2O3、SO3：0.01%~100%；2.?分析寬度：CaO≤7%、Fe2O3≤5%、SiO2≤5%、Al2O3≤7%、SO3≤5%，例如生料中CaO%：38.5%～45.5%，Fe2O3%：0.01%～5.00%，SiO2%：10.00%～15.0
X熒光硅鋁分析儀的技術指標
X熒光硅鋁分析儀 技術指標：1、分析范圍: SiO2、Al2O3 0.01%～100?2、分析精度：標準偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析寬度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通過標定工作曲線選定。4
X熒光硅鋁分析儀的技術指標
技術指標?1、分析范圍:?SiO2、Al2O3?0.01%～100%??2、分析精度：標準偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%? 3、分析寬度:?SiO2(Al2O3)?max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通過標定工作曲線選定。?? ??
X熒光鈣鐵元素分析儀技術指標
X熒光鈣鐵元素分析儀技術指標1. 分析范圍: CaO、Fe2O3: 0.01%~99%；2. 分析寬度： (CaO、Fe2O3) %max~ (CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%, CaO：38%~43%，Fe2O3:1%~6%，通過標定工作曲線選定；3. 分析精
X熒光鈣鐵分析儀的技術指標
1. 分析范圍： CaO、Fe2O3分析范圍均可調節，通過標定工作曲線的方法選定。? ? ? 2. 分析范圍寬度： CaO%max—CaO%min≤7% Fe2O3 % max—Fe2O3 % min≤5%；? ? ?例如生料：CaO：39%~46%，Fe2O3：0.01~5%。? ? ? 3. 固