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  • 什么是EBSD技術?

    EBSD是一種“結晶學”分析系統。1996年美國TSL(TexSemLaboratories,Inc.)公司推出了TSLOIM系統,空間分辨本領已優于0.2μm,比原理相似的電子通道圖樣(ECP)提高了一個量級,在0.4秒鐘內即能完成一張衍射圖樣的自動定標工作。英國牛津集團顯微分析儀器Link-OPAL公司的EBSD結晶學分析系統,目前已用于Si片上Al連線的取向分析,以判斷其質量的優劣及可行性。以背散射電子衍射圖樣(EBSP)為基礎的晶體學取向成像電子顯微術(OIM)。在SEM上增加一個可將試樣傾動約70度的裝置,CCD探測器和數據處理計算機系統,掃描并接收記錄塊狀試樣表面的背散射電子衍射花樣(背散射菊池花樣),按試樣各部分不同的晶體取向分類成像來獲得有關晶體結構的信息,可顯示晶粒組織、晶界和裂紋等,也可用于測定織構和晶體取向。可望發展成SEM的一個標準附件。......閱讀全文

    打破-技術壟斷!中科院曾毅團隊研制國產-EBSD-樣機,高端儀器添-中國芯

      中國科學院上海硅酸鹽研究所曾毅研究員團隊近日研制出國產高分辨電子背散射衍射儀(EBSD)樣機,這標志著我國在電子顯微鏡相關分析測試儀器領域取得突破,為材料科學研究和工業應用提供技術支撐。  作為掃描電子顯微鏡的關鍵附件,EBSD能在微米尺度內高精度實現微區晶體學顯微結構分析。目前,全球僅有4家國

    高應變率作用下高導無氧銅晶粒細化

    通過Leica EM TIC3X?對樣品進行離子束切割,樣品EBSD mapping解析率得到明顯提升,可達80%-90%以上,并且結果穩定可重復,更好地表征了晶粒的變形,以及大小角晶界的轉變。實驗樣品高應變率作用下高導無氧銅(OFHC)實驗目的通過電子背散射衍射技術(EBSD)對在高應變率、高溫和

    “進無止境-一起騰沖”——2019牛津儀器納米分析技術論壇

      分析測試百科網訊 2019年11月17-19日,2019牛津儀器納米分析技術論壇在美麗的邊城云南騰沖召開,來自全國200多位牛津儀器用戶參加了本屆論壇。論壇主要圍繞牛津儀器X射線能譜儀、EBSD、3D技術以及原子力顯微鏡技術的最新進展,以及在材料學、生命科學、地質地礦、半導體、物理學等領域的研究

    電子背散射衍射的晶體分析

    晶界、亞晶及孿晶性質的分析在得到EBSD整個掃描區域相鄰兩點之間的取向差信息后,可進行研究的界面有晶界、亞晶、相界、孿晶界、特殊界面(重合位置點陣CSL等)。相鑒定及相比計算就目前來說,相鑒定是指根據固體的晶體結構來對其物理上的區別進行分類。EBSD發展成為進行相鑒定的工具,其應用還不如取向關系測量

    燕山大學劉鑫剛教授:打破微觀表征與宏觀描述的壁壘

      在遼闊的自然界中,壯麗絕倫的景觀無所不在,但微觀世界卻是一個飽含著神秘和驚奇的奇妙領域——這里涵蓋著千姿百態的絢爛色彩、瑰麗壯觀的紋路和形態,藝術和科學在這里交相輝映,呈現出美的本質。惟有借助科學的方法和特定的儀器,才能探尋這個神秘的維度,發現無窮無盡的美麗。  在微觀世界中,一切美景都蘊藏著科

    有哪幾種電子衍射

    1)電子顯微鏡中主要有SAED選區電子衍射、μ-衍射、納米衍射、CBED會聚束衍射、EBSD背散射電子衍射五種電子衍射。 2)操作特點: ①SAED選區電子衍射采用TEM模式,利用μ級平行入射電子束照射試樣,通過物鏡像平面處的選區光闌選取特定區域做電子衍射,得到與選擇區域對應的電子衍射花樣。 ②μ-

    有哪幾種電子衍射,說明各自的操作特點和基本應用

    1)電子顯微鏡中主要有SAED選區電子衍射、μ-衍射、納米衍射、CBED會聚束衍射、EBSD背散射電子衍射五種電子衍射。 2)操作特點: ①SAED選區電子衍射采用TEM模式,利用μ級平行入射電子束照射試樣,通過物鏡像平面處的選區光闌選取特定區域做電子衍射,得到與選擇區域對應的電子衍射花樣。 ②μ-

    478萬!中國民航科學技術研究院場發射掃描電鏡采購項目

      分析測試百科網訊 近日,航科院航空安全實驗基地場發射掃描電鏡采購項目(項目編號:TC1904B11)進行公開招標,包括場發射掃描電鏡、能譜儀、EBSD等,預算金額:650萬。詳情如下:  項目聯系人:潘太新 電話:010-62108285  開標時間:2019年11月13日 09:30  開標地

    牛津儀器4款年度電鏡新品亮相2020北京電鏡年會

      分析測試百科網訊 2020年度北京市電子顯微學年會隆重舉行。在電鏡年會上,牛津儀器為觀眾帶來了4款年度產品,向觀眾展示了牛津儀器在電鏡領域的領先實力。這四款產品分別是Symmetry S2 EBSD探測器、Xplore緊湊型能譜儀、AZtecWave波譜儀和AZtecCrystal EBSD后處

    氬離子束拋光系統消除您的實驗室苦惱

      氬離子束拋光系統是在Gatan公司經典的691離子減薄儀技術上發展而來。它的問世改變了此前人們用手動或機械研磨的方法對樣品進行研磨拋光的局限性。   氬離子拋光系統采用兩支具有低能聚集的小型潘寧離子槍,可提供快速柔和的拋光效果。低至100eV的離子束提供更柔和的拋削效果,用于樣品的終極拋光。新

    進無止“鏡”|2023牛津儀器材料分析研討會順利召開

    2023年3月29日,牛津儀器材料分析研討會在北京順利召開。此次會議包含了原子力顯微鏡實際應用案例、最新技術進展,共聚焦拉曼光譜系統、能譜儀、波譜儀、EBSD等在材料分析中的綜合應用,各項技術聯用的最新進展、實驗方法的改進,耗材的選擇等內容。會議邀請了行業專家和牛津儀器工程師做出了精彩報告,會議間歇

    華中科技大學郜鮮輝:發現“蠶蛾”之美

      在遼闊的自然界中,壯麗絕倫的景觀無所不在,但微觀世界卻是一個飽含著神秘和驚奇的奇妙領域——這里涵蓋著千姿百態的絢爛色彩、瑰麗壯觀的紋路和形態,藝術和科學在這里交相輝映,呈現出美的本質。惟有借助科學的方法和特定的儀器,才能探尋這個神秘的維度,發現無窮無盡的美麗。  在微觀世界中,一切美景都蘊藏著科

    清華大學儀器共享平臺Zeiss-Merlin-高性能場發射掃描電鏡

    儀器名稱:高性能場發射掃描電鏡 Zeiss Merlin儀器編號:16005773產地:德國生產廠家:Zeiss型號:Merlin出廠日期:201306購置日期:201603所屬單位:材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點:主樓11-108固定電話:固定手機:固定email:聯系人:胡蓉(010-6

    清華大學儀器共享平臺Zeiss-Merlin-高性能場發射掃描電鏡

    儀器名稱:高性能場發射掃描電鏡 Zeiss Merlin儀器編號:16005773產地:德國生產廠家:Zeiss型號:Merlin出廠日期:201306購置日期:201603所屬單位:材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點:主樓11-108固定電話:固定手機:固定email:聯系人:胡蓉(010-6

    清華大學儀器共享平臺Zeiss-Merlin-高性能場發射掃描電鏡

    儀器名稱:高性能場發射掃描電鏡 Zeiss Merlin儀器編號:16005773產地:德國生產廠家:Zeiss型號:Merlin出廠日期:201306購置日期:201603樣品要求:常規樣品:1.類型:固體、真空下無揮發物;??????????????? 2.尺寸:一般直徑小于80mm,高度小于3

    Zeiss-Merlin高性能場發射掃描電鏡共享

    儀器名稱:高性能場發射掃描電鏡 Zeiss Merlin儀器編號:16005773產地:德國生產廠家:Zeiss型號:Merlin出廠日期:201306購置日期:201603樣品要求:常規樣品:1.類型:固體、真空下無揮發物;??????????????? 2.尺寸:一般直徑小于80mm,高度小于3

    光學顯微鏡應用領域

    應用領域:光學顯微鏡主要用于光滑表面的微米級組織觀察與測量,因為采用可見光作為光源因此不僅能觀察樣品表層組織而且在表層以下的一定范圍內的組織同樣也可被觀察到,并且光學顯微鏡對于色彩的識別非常敏感和準確。電子顯微鏡主要用于納米級的樣品表面形貌觀測,因為掃描電鏡是依靠物理信號的強度來區分組織信息的,因此

    原位加熱臺的優勢分析

    在掃描電鏡中對樣品加熱在許多材料科學研究中已經成了一項必不可少的手段,使用掃描電鏡原位加熱臺可以進行動態地觀察溫度變化過程中的材料微觀變化及失效分析。如今被廣泛應用于金屬材料、液晶檢測、半導體、高分子材料、流體包裹體、生物工程等眾多領域。原位加熱臺能夠使我們動態地觀察樣品在加熱過程中的相變、再結晶、

    莞工王皓亮:零膨脹鈦合金為精密無熱化結構帶來變革

      宏大的自然界中,眼花繚亂的美景一覽無余,而微觀世界卻深藏著充滿驚奇和神秘的美妙——這里有著千姿百態的絢爛色彩、光怪陸離的紋路和形態,藝術與科學在此交相輝映,揭示出美的真諦。微觀世界充滿了無盡的美,需要借助科學家的方法和特定的儀器,才能揭開這個神秘的維度。  這里的一切美景都隱含著科學和藝術的奧秘

    電子探針射線顯微分析和場發射掃描電鏡的不同區別

      所謂的場發射掃描電鏡是指,相較于傳統的鎢燈絲光源而言,其采用更了為先進的肖脫基場發射光源。采用場發射光源后電子束能量更強,二次電子相(也就是我們平時所說的掃描照片)更加清晰,放大倍數在理想的情況下可以達到10萬倍以上。同時,在進行EBSD的測試中也具有相當的優勢。  電子探針,即EPMA, 是一

    掃描電子顯微鏡基本結構

    1-鏡筒;2-樣品室;3-EDS探測器;4-監控器;5-EBSD探測器;6-計算機主機;7-開機/待機/關機按鈕;8-底座;9-WDS探測器。

    掃描電子顯微鏡的主要組成部分

    1-鏡筒;2-樣品室;3-EDS探測器;4-監控器;5-EBSD探測器;6-計算機主機;7-開機/待機/關機按鈕;8-底座;9-WDS探測器。

    掃描電子顯微鏡的結構圖

    1-鏡筒;2-樣品室;3-EDS探測器;4-監控器;5-EBSD探測器;6-計算機主機;7-開機/待機/關機按鈕;8-底座;9-WDS探測器。

    Zeiss-FIB聚焦離子束-共享

    儀器名稱:聚焦離子束 Zeiss FIB儀器編號:16005806產地:德國生產廠家:蔡司型號:Auriga出廠日期:201506購置日期:201603所屬單位:材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點:主樓東配樓11-112固定電話:固定手機:固定email:聯系人:王永力(010-62773015

    Zeiss-FIB聚焦離子束共享應用

    儀器名稱:聚焦離子束 Zeiss FIB儀器編號:16005806產地:德國生產廠家:蔡司型號:Auriga出廠日期:201506購置日期:201603所屬單位:材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點:主樓東配樓11-112固定電話:固定手機:固定email:聯系人:王永力(010-62773015

    清華大學儀器共享平臺Zeiss-FIB-聚焦離子束

    儀器名稱:聚焦離子束 Zeiss FIB儀器編號:16005806產地:德國生產廠家:蔡司型號:Auriga出廠日期:201506購置日期:201603樣品要求:FIB樣品要求:制備TEM樣品要求:直徑12.5mm以內,高度2mm以內,拋光級別0.5um以上。其他FIB加工要求:直徑32.5mm以內

    清華大學儀器共享平臺Zeiss-FIB-聚焦離子束

    儀器名稱:聚焦離子束 Zeiss FIB儀器編號:16005806產地:德國生產廠家:蔡司型號:Auriga出廠日期:201506購置日期:201603所屬單位:材料學院>材料中心 >電鏡中心放置地點:主樓東配樓11-112固定電話:固定手機:固定email:聯系人:王永力(010-62773015

    電子探針射線顯微分析和場發射掃描電鏡有什么不同?

    簡單說說,可能不規范。所謂的場發射掃描電鏡是指,相較于傳統的鎢燈絲光源而言,其采用更了為先進的肖脫基場發射光源。采用場發射光源后電子束能量更強,二次電子相(也就是我們平時所說的掃描照片)更加清晰,放大倍數在理想的情況下可以達到10萬倍以上。同時,在進行EBSD的測試中也具有相當的優勢。電子探針,即E

    掃描電子顯微鏡的基本結構

    基本結構結構示意圖1-鏡筒;2-樣品室;3-EDS探測器;4-監控器;5-EBSD探測器;6-計算機主機;7-開機/待機/關機按鈕;8-底座;9-WDS探測器。

    掃描電子顯微鏡的基本結構

    基本結構結構示意圖?1-鏡筒;2-樣品室;3-EDS探測器;4-監控器;5-EBSD探測器;6-計算機主機;7-開機/待機/關機按鈕;8-底座;9-WDS探測器。

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